ElectroTest Japan 2011 >>>

Международная выставка тестового и инспекционного, измерительного и контрольного оборудования для производства электроники и R&D

28th Exhibition specialised in Test and Inspection in Electronic Manufacturing and R&D

Международная выставка всех видов систем тестирования, инспекции, контороля и измерений, применяемых для поверхностного монтажа, сборки и компоновки ИС и производства электроники и печатных плат ElectroTest Japan 2011 пройдет с 19 по 21 января 2011 года в Токио в Японии. Выставка ElectroTest Japan 2011 проводится врамках широкомасштабного интегрированного проекта NEPCON JAPAN × ELECTRONIX R&D JAPAN, охватывающего все аспекты микроэлектронной промышленности. Вниманию профессиональных посетителей выставки ElectroTest Japan 2011 будут представлены следующие разделы: измерительное, инспекционное, тестовое испытательное оборудование и приборы, оптические инструменты, лабораторные приборы, аналитическое оборудование, датчики, термометры, автоматизированные системы контроля, обработки и передачи данных для электронной промышленности.

Год: 2010
Экспоненты - 1025.
Посетители - 63982.